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Power Tester功率循环及热测试平台用于功率半导体器件的热可靠性测试和寿命测试（包含IGBT、Si和SiC MOSFET、二极管等）以及热特性测试。帮助用户精确测量结温和瞬态热阻，同时Power Tester提供全自动的功率循环可靠性测试。在简单的触屏操作界面，用户可以对器件施加多种不同的功率循环策略包括恒电流I，恒功率P，恒结温差 ΔT(junction)，恒壳温差ΔT(c) (Ext. Sens.)等模式另外也包含通过调节栅压的形式实现以下Const. ΔT(j) (V(Gate))，Const. |ΔP| (V(Gate))，Const. ΔT(c) (V(Gate))等循环模式。在测试中记录失效诊断的信息，”实时“、“在线式”分析常见的由于热量引起的机械性失效，芯片焊接层、焊线的分离、芯片及封装内部材料的分层与破裂及焊接层的老化。测试完成后可以通过“结构函数曲线”来识别封装内部的变化/失效。
Power Tester可提供不同电流、电压与测量通道数的规格，以满足客户不同需求。
测试技术：Power Tester是基于Mentor Graphics®T3Ster®advanced thermal testing硬件解决方案，该解决方案在世界各地的行业中用于精确的热特性测试。
先进的测试理念：Power Tester可以同时进行功率循环和热测试，任何与老化降级相关的热效应都可以在不移动待测器件的情况下通过结构函数在线监测，与传统的老练设备相比更加节省时间，能获得完整的失效数据。
易于操作：Power Tester可供专家和生产人员使用
友好的触摸屏界面：Power Tester可以在测试过程中记录广泛的信息，如电流、电压和芯片温度传感；以及详细的结构功能分析，以记录封装热结构的变化。
电力电子产品测试：包括金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）、绝缘栅双极晶体管（IGBT）和功率二极管。
功率循环测试，直至失效：节省时间，因为组件不需要拆下，进行实验室测试，然后返回测试仪进行更多的循环。
多种供电策略：恒定时间Ton/Toff、恒定电流、恒定壳温变化、恒定的结温变化以及恒定的功率变化。
“实时”结构功能诊断：快速获得正在进行的故障、循环次数和故障原因等结果。
安全设计：增强的安全功能、超温、烟雾、冷却液泄漏检测确保了系统的安全运行，即使系统处于独立状态。
图1. 简洁方便的图形化操作界面
Power Tester既可以对包括混合动力汽车及电动车辆和列车在内的汽车和交通行业应用中越来越多的电力电子器件进行可靠性测试，还可以对发电与变频器、风力涡轮机等可再生能源应用中越来越多的电力电子器件进行可靠性测试。是结合了功率循环测试功能和瞬态热测试功能的热测试产品，通过结构函数提供实时故障原因诊断的数据。
图1. 损坏的IGBT模组与IGBT模组截面示意图
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南方半导体科技有限公司
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