DIC全场应变测量系统

非接触 | 全场同步 | 直观可视

数字图像相关法 (Digital Image Correlation) 通过将被称为散斑图案 (Speckle Pattern) 的随机图案喷涂于待测表面，并通过比较和分析变形前后的图像来解析样品变形的程度。通过该方法可计算出物体表面位移场及应变场分布。

由 NASA 投资的 Correlated Solutions, Inc. 公司，是 DIC 技术的原创者，在20年的研究与发展过程中，始终引领该技术的发展趋势，具有在功能、精度、计算效率和稳定性等多方面的技术领先优势，拥有多项DIC测量技术专利。该测量系统采用高精度的数字图像相关性运算法则，为试验提供测量范围内的3D全场的形貌、位移及应变等数据信息。